Cassification
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小型恒溫恒濕環(huán)境培養(yǎng)箱 多規(guī)格可定制主要為電子零部件、工業(yè)材料、成品在研發(fā)、生產和檢驗各環(huán)節(jié)的試驗提供恒定濕熱、復雜高低溫交變等試驗環(huán)境和試驗條件。
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小型恒溫恒濕環(huán)境培養(yǎng)箱 多規(guī)格可定制
1、型號:SMC-50PF 溫度范圍:-40~150℃
2.工作室溫度范圍:0;-20;-40;-60;-70~+100℃(150℃)
3.濕度范圍: 20%~98% R.H(溫度在25℃~80℃時)(可設定恒濕)
4.溫度均勻度: ≤±2℃ (空載時)
5.濕度均勻度: ≤+2% ~ -3% R.H
6.溫度波動度: ≤±0.5℃(空載時)
7.濕度波動度: ≤±2%
8.溫度偏差: ≤±2℃ (空載時)
9.濕度偏差: ±2.5%R.H(濕度≥75%R.H) ±3%R.H(濕度≤75%R.H)
10、降溫速率:0.7~1.2℃/min
11、升溫速度:1.0~3.0℃/min
12、時間設定范圍: 0~9999 小時
13、溫度交變范圍:-20;-40;-60;-70;-100℃~100℃(150℃)(自定)
14、濕度交變范圍:30%~98% R.H(自定)
小型恒溫恒濕環(huán)境培養(yǎng)箱 多規(guī)格可定制
執(zhí)行與滿足標準
GB11158-2008 高溫試驗箱技術條件
GB10589-2008低溫試驗箱技術條件
GB10592-2008技術條件(溫度交變)
GB/T2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分;試驗方法試驗A;低溫(IEC60068-2-1;2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分;試驗方法試驗B;高溫(IEC60068-2-1;2007)
GB/T2423.22-2002電工電子產品環(huán)境試驗第2部分;試驗方法試驗N;溫度變化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009設備實驗室環(huán)境試驗方法第3部:高溫試驗
GJB150.4A-2009設備實驗室環(huán)境試驗方法第3部:低溫試驗
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